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| 0. はじめに |
| 1.分析の基本的な考え方 |
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1.4.1 |
基本的な特許マップの読み方 |
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1.4.2 |
特許マップに現れる特徴的なパターン |
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1.4.3 |
特許マップの具体的活用方法 |
| 2.分析の全体フロー |
| 3.SIP(SYSTEM IN PACKAGE) |
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3.5.1 |
母集団の全体像(出願人出現頻度;上位30社) |
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3.5.2 |
母集団の全体像(出願人出現頻度;主要企業)
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3.6.1 |
特許マップ |
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3.6.2 |
IPC分布 |
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3.6.3 |
技術の全体像(SiP)
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| 4.LTCC(LOW TEMPERATURE CO-FIRED CERAMICS)関連 |
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4.5.1 |
母集団の全体像(出願人出現頻度;上位30社) |
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4.5.2 |
母集団の全体像(出願人出現頻度;主要企業) |
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4.6.1 |
特許マップ |
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4.6.2 |
IPC分布 |
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4.6.3 |
技術の全体像(LTCC)
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| 5.参考資料 |
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