| 主 催 | テクノアソシエーツ,日経BP社,三菱総合研究所 | 
            
              | 日 時 | 2006年7月12日(水) 13:00〜16:30(開場/12:30) | 
            
              | 会 場 | 海運ビル・2F大ホール (東京都千代田区平河町2−6−4)
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              | 受講資格 | 
            
              | お申込み | 受付終了 | 
            
              | お申込み締切日 | 2006年7月11日(火) | 
            
              | プログラム 
   | 13:00 | 開会ご挨拶 | 
            
              | 13:05〜13:45 | 「特許分析の意義と,特許マップを用いた分析の有効性」 | 
            
              | 13:45〜13:55 | 質疑応答 | 
            
              | 13:55〜14:15 | 「FPD分野における特許出願動向(全体像の把握)」 | 
            
              | 14:15〜14:45 | 「方式別分析結果(液晶,プラズマ,リアプロ)」 | 
            
              | 14:45〜15:00 | 休 憩 | 
            
              | 15:00〜15:30 | 「方式別分析結果(有機EL,FED・SED)」 | 
            
              | 15:30〜16:00 | 「知財部門担当者,技術者・研究者にとっての特許マップの具体的活用シーン」 | 
            
              | 16:00〜16:30 | ディスカッション(質疑応答) | 
            
              | 16:30 | 閉会ご挨拶 | 
            
              | 講 師 | 三菱総合研究所 科学技術研究本部 技術マネジメントグループ
 中村 達生(主任研究員,工学博士)
 河合 毅治(主任研究員)
 三浦 義弘(研究員)
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