| 主 催 |
テクノアソシエーツ,日経BP社,三菱総合研究所 |
| 日 時 |
2006年7月12日(水) 13:00〜16:30(開場/12:30) |
| 会 場 |
海運ビル・2F大ホール
(東京都千代田区平河町2−6−4) |
| 受講資格 |
| お申込み |
受付終了 |
| お申込み締切日 |
2006年7月11日(火) |
プログラム
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13:00 |
開会ご挨拶 |
| 13:05〜13:45 |
「特許分析の意義と,特許マップを用いた分析の有効性」 |
| 13:45〜13:55 |
質疑応答 |
| 13:55〜14:15 |
「FPD分野における特許出願動向(全体像の把握)」 |
| 14:15〜14:45 |
「方式別分析結果(液晶,プラズマ,リアプロ)」 |
| 14:45〜15:00 |
休 憩 |
| 15:00〜15:30 |
「方式別分析結果(有機EL,FED・SED)」 |
| 15:30〜16:00 |
「知財部門担当者,技術者・研究者にとっての特許マップの具体的活用シーン」 |
| 16:00〜16:30 |
ディスカッション(質疑応答) |
| 16:30 |
閉会ご挨拶 |
| 講 師 |
三菱総合研究所
科学技術研究本部 技術マネジメントグループ
中村 達生(主任研究員,工学博士)
河合 毅治(主任研究員)
三浦 義弘(研究員) |